Rambler's Top100 о нас  
наша почта  
контакты  
Продукция
Просвечивающие микроскопы | Микроскоп ПЭМ-200 English  
 
ВАКУУМНАЯ ТЕХНИКА
Вакуумметры
Датчики вакуума
Установки для напыления
Универсальный вакуумный пост ВН 2000 и ВН 2000 (-08)
Аксессуары к универсальному вакуумному посту ВН 2000
Вакуумная установка препарирования электронно-микроскопических объектов
Универсальный вакуумный пост ВН 3000
Аксессуары к универсальному вакуумному посту ВН 3000
Мишени и источники испарения
Насосы и запорная арматура
Системы комплексы напуска газов
Услуги
Нестандартное вакуумное оборудование изготовленное по ТЗ заказчика
МАСС-СПЕКТРОМЕТРЫ
Изотопные
Химические и биохимические
Квадрупольные
ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Растровые микроскопы
Просвечивающие микроскопы
Дополнительное оборудование
СПЕКТРОМЕТРИЯ
Рентген-флуоресцентные анализаторы
Атомно-флуоресцентные спектрофотометры
Атомно-абсорбционные спектрофотометры
Аксессуары к атомно-абсорбционным спектрофотометрам
Минерализатор
ИК-спектрофотометры
Иммуноферментные анализаторы
Биохимические анализаторы
УФ-ВИД СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ
Флюориметры
Пламенные фотометры
Измерители хлоридов
Услуги
ХРОМАТОГРАФЫ
Газовые хроматографы
Устройство пробоподготовки масел УПМ-1
Жидкостные хроматографы
СВАРОЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
Электронно-лучевая аппаратура
Точечная сварка
Вакуумный комплекс
Модернизация системы управления ЭЛА
ЛАБОРАТОРНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
Анализаторы азота (блок перегонки) методом Къельдаля
Дигесторы (печи)
Анализаторы афлатоксинов
Анализаторы жиров и масел (по Сокслету)
Анализатор клетчатки
Потенциометрия
Ультразвуковые ванны
УЛЬТРАЗВУКОВЫЕ ДИСПЕРГАТОРЫ
Световые микроскопы
Прибор определения числа падения
Аквадистилляторы электрические
Шкафы сушильные
ЛАБОРАТОРНОЕ ПОСУДА
УСЛУГИ
Ремонт оборудования
Эл.-лучевая сварка в вакууме
Модификация поверхностей
Оптимизация ионно-оптических систем
 
 
 
Поиск по сайту
 
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения с компьютерным управлением ПЭМ-200

Увеличить (23 Кб)
Микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов.
Основные функции микроскопа:
  • наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне увеличений
  • исследование объектов в режимах микро-дифракции, малоугловой дифракции, дифракции высокого разрешения
  • исследование объектов при их наклоне и вращении
  • режим высокого контраста для медико-биологических объектов
  • автоматизированное компьютерное управление
  • компьютерный анализ изображений объектов по специальным программам
  • элементный анализ исследуемых объектов
Параметры Тип полюсного наконечника
Высокого разрешения Большого наклона Высокого контраста
Разрешение, нм:
по кристаллической решетке 0,14 0,204 0,34
по точкам 0,35 0,37 0,4
Диапазон электронно-оптических увеличений 50x - 1 300 000x
(31 ступень)
50x - 1 000 000x
(31 ступень)
50 - 850 000x
(31 ступень)
Угол наклона объекта гониометром, град ±15 ±60 ±15
Длина дифракционной камеры:
микро дифракция, мм 80 - 3 500
(11 ступеней)
100 - 5 000
(11 ступеней)
115 - 5 800
(11 ступеней)
малоугловая дифракция, м 10 - 200
(10 ступеней)
10 - 200
(10 ступеней)
10 - 200
(10 ступеней)
дифракция высокого разрешения, мм 410 410 410
Параметры объективной линзы:
Ссф, мм 1,82 2,28 2,75
Схр, мм 1,9 2,43 2,9
F, мм 2,4 3,1 3,7

Ускоряющее напряжение
Увеличить (24 Кб)
Увеличить (26 Кб)
Увеличить (11 Кб)
25-125 кВ, шаг регулировки 0,05; 0,1; 1,0; 5,0 10,0; 25,0 кВ нестабильность 2×10-6 1/мин, вобблер, автоматическая компенсация токов линз и токов отклоняющих систем при изменении ускоряющего напряжения.

Конденсорный блок
Две линзы; десять ступеней регулировки диаметра электронного пучка на объекте в диапазоне от 5 мкм до 0,1 мкм; программное управление отклоняющей системой наклона и перемещения электронного пучка на объекте; независимая юстировка режимов светлого и темного поля; быстрый переход из одного режима в другой; запоминание шести положений наклона электронного пучка; держатель c тремя сменными диафрагмами; угол наклона электронного пучка на объекте ±4o; вобблер отклоняющей системы и второй конденсорной линзы.

Объективная линза
Эвцентрический гониометр с боковым вводом объекта, наклон объекта от электропривода, в держатель устанавливаются два объекта, автоматическая система шлюзования камеры объектов, три сменных полюсных наконечника: высокого разрешения, большого наклона, высокого контраста; восьмиполюсный электромагнитный стигматор с коррекцией смещения изображения при стигмировании, противозагрязняющая защита с жидким азотом, держатель с тремя сменными апертурными диафрагмами, вобблеры для юстировки магнитного центра и фокусировки изображения, фокусировка изображения с известным шагом с индикацией на дисплее компьютера, цифровая индикация положения объекта на дисплее компьютера с запоминанием координат по Х и У

Проекционная система
Четыре линзы, при изменении увеличений в диапазоне от 2000 до 500 000 крат фокусировка изображения автоматически сохраняется, поворот изображения и дифракционной картины при изменении увеличения или длины камеры отсутствует, держатель с тремя сменными селекторными диафрагмами.

Камера наблюдений
Окно для наблюдения изображения 220 × 280 мм, дополнительный экран для фокусировки Ж25 мм, десятикратный бинокуляр.


Система фоторегистрации

Вакуумная камера с возможностью фоторегистрации на плоскую фотопленку размером 90 × 65 мм (24 шт.). Автоматический фотоэкспонометр. На фото-пластине индицируется номер эксперимента и увеличение. Более подробная информация об условиях эксперимента хранится в базе данных компьютера.

Управление прибором
Микроскоп управляется от промышленного компьютера типа ADVANTECH. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS. Управление от манипулятора типа "Мышь". В память компьютера занесены методы юстировки, работа на приборе, технические характеристики и другая необходимая информация. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS позволяет не только управлять микроскопом, но на этом же компьютере производить анализ химического состава объектов при работе с энергодисперсионным спектрометром и анализ изображения объектов по специальным программам при работе с CCD-камерой.

Вакуумная система
Два механических пластинчато-роторных насоса для создания предварительного разрежения, один магниторазрядный насос для откачки пушки, конденсорного блока, объектива и проекционного блока, один диффузионный насос для откачки камеры наблюдений и фотокамеры.

Требования к помещению


Площадь, кв. м. минимум 12
Высота потолка, м. минимум 2,65
Входная дверь
ширина, м. минимум 0,9
высота, м. минимум 1,8
Вода
расход, л/мин. 5
давление, мПа 0,2-0,4
температура, oС 15±5
кран 1/2", шт. 1
слив 3 шланга
Электропитание
3-х фазная сеть переменного тока с фазным напряжением 220±22 В
частота, Гц 50±1
мощность, кВА не менее 5,5
Заземляющий контур с сопротивлением не более 4 Ом.
Вибрации пола не более 0,2 мм/сек в диапазоне от 5 до 50 Гц,
Уровень электромагнитных полей не более 0,2 мкТл.
Общая масса, кг 1700 кг.

Дополнительное оборудование
Электронный микроскоп ПЭМ-200 может быть оснащен (по отдельному договору) следующими дополнительными устройствами:
  • системой вывода и анализа изображения (САИ) с боковым и нижним выводом изображения при помощи CCD-камеры;
  • системой рентгеновского анализа (ЭДС) с полупроводниковым Si (Li) детектором;
  • комплектом дифракционных приставок (КДП) для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения (длина камеры 410 мм), в том числе с нагревом объекта до 8000 oС и охлаждением до минус 1200oС;
  • держателем объектов с двойным наклоном (ДО-01), угол наклона объектов в держателе ±45o;
  • автономной системой водяного охлаждения (АСО), поддерживающей постоянную температуру охлаждающей воды в диапазоне 16 ± 30 oС с точностью ± 10 °С;
  • холодопроизводительность системы не менее 2,5 кBт.

 
 
 
bigmir)net TOP 100
НПП УкрРосПрибор, 2004
Дизайн и программирование "Студия ourNet", 2004